Wystąpienie błędu single-bit error (SBE) i/lub multi-bit error (MBE) w jednym lub wielu slotach pamięci nie zawsze oznacza uszkodzenie samego modułu pamięci. Koniecznym jest wykonanie prostych testów diagnostycznych, aby określić dokładną przyczynę problemu. Ilustracja 1 (j.ang.) przedstawia przykładowe błędy pamięci raportowane poprzez interfejs iDRACa w serwerze R715.
Ilustracja 1: Błędy pamięci raportowane w logach iDRAC 6
Określenie dokładnej przyczyny błędu pamięci wymaga przekładania modułów pamięci pomiędzy różnymi slotami, kanałami, bankami i kontrolerami. Moduły pamięci można poprzekładać na kilka różnych sposobów. Niekiedy określenie dokładnej przyczyny błędu (slotu lub modułu pamięci) może wymagać wykonania kilku przełożeń. Poniżej znajdują się przykłady różnych metod przekładania modułów pamięci. W tym przykładzie zakładamy, że uszkodzenie jest zgłaszane na module DIMM A1 lub w jednym ze slotów oznaczonych na niebiesko.
Przekładanie modułów pamięci grupami (cały kanał lub bannk), zamiast przekładania ich pojedynczo, jest najlepszą metodą na rozpoczęcie identyfikowania uszkodzonego modułu/modułów.
Kiedy uda się określić grupę zawierającą uszkodzony moduł/moduły, można wtedy poprzekładać pojedyncze moduły, aby wskazać konkretną przyczynę problemu.
Zamiana miejscami modułu DIMM A1 (zaznaczony na niebiesko) z modułem DIMM A9 (zaznaczonym na czerwono), której celem jest wypróbowanie modułu pamięci w innym kanale i banku.
Ilustracja 2: Zamiana miejscami modułów DIMM A1 z DIMM A9
Zamiana miejscami modułu DIMM A1 (zaznaczony na niebiesko) z modułem DIMM B1 (zaznaczonym na czerwono), której celem jest umieszczenie modułu w slocie przypisanym do innego kontrolera pamięci (CPU).
Ilustracja 3: Zamiana miejscami modułów DIMM A1 z DIMM B1
Zamiana miejscami całego banku pamięci (A1, A2, A3 - oznaczony na niebiesko) z innym bankiem (B1, B2, B3 - oznaczonym na czerwono), której celem jest przetestowanie całego banku modułów pamięci w nowym banku, z nowym kontrolerem pamięci (CPU).
Ilustracja 4: Zamiana miejscami modułów DIMM A1, A2, A3 z modułami DIMM B1, B2, B3
Zamiana miejscami całego kanału pamięci (A1, A4, A7 - oznaczony na niebiesko) z innym kanałem (B1, B4, B7 - oznaczonym na czerwono), której celem jest przetestowanie całego kanału pamięci w innym kanale pamięci, z nowym kontorlerem pamięci (CPU).
Ilustracja 5: Zamiana miejscami modułów DIMM A1, A4, A7 z modułami DIMM B1, B4, B7
Najczęściej błąd podąża za modułem pamięci wskazanym w logach. Np. w przypadku błędu SBE zgłoszonego na module DIMM A1, zamiana miejscami tego modułu z innym modułem może przynieść następujące rezultaty:
Potrzebujesz pomocy? | |
![]() |
Wyszukaj dodatkowe Zasoby produktów |
![]() |
Wejdź na stronę Społeczności i uzyskaj o pomoc |
![]() |
Utwórz i wyślij Wniosek online |
Identyfikator artykułu: SLN289424
Data ostatniej modyfikacji: 28.03.2018 13:16
Dziękujemy za uwagi.